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绝缘栅双极型晶体管的失效机理和寿命预测模型
发布时间：2020-06-25 06:25:32
针对绝缘栅双极型晶体管（IGBT）的主要故障机理，特别是连接线的故障过程，采用了高速红外热像仪对结温和结温进行实时检测。
合引线失效过程的温度分布。测传热特性，发现在高结温和高温梯度下，IGBT的主要失效模式是键合线的翘曲和熔化。
出了一种集电极-发射极电压降增大，热阻基本不变的方法，提出了一种提高器件可靠性，延长使用寿命的方法。
据加速寿命测试的原理，通过执行大功率电源循环测试并调整测试数据，可以获得电流水平和最高的工作。
用测试数据中的误差对改进的结温寿命预测模型进行分析和比较。
经发现，在不同的测试条件下，与原始模型相比，模型的精度有所提高，适用范围从80 K扩展到100K。
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